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小型高低溫試驗箱高低溫條件對設(shè)備的影響
點擊次數(shù)：1169 更新時間：2018-03-08 返回
小型高低溫試驗箱現(xiàn)貨供應(yīng)高低溫試驗箱主要針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
小型高低溫試驗箱產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
1.填充物和密封條軟化或融化；
2.潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減??；
3.電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
4.加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等；
5.材料膨脹造成機械應(yīng)力增大或磨損增大。
小型高低溫試驗箱產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
1.使材料發(fā)硬變脆；
2.潤滑劑粘度增加，流動能力降低，潤滑作用減??；
3.電子元器件性能發(fā)生變化；
4.水冷凝結(jié)冰；
5.密封件失效；
6.材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化。
